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    产品展示

    首页-产品展示-智能装备解决方案-手机行业检测设备-MINLMJ-100手机CSP芯片组件外观检测机

    手机CSP芯片组件外观检测机

    产品型号:MINLMJ-100

    简要描述:手机CSP芯片组件外观检测机利用光学检测原理,用程序对CCD成像照片进行分析,实现对芯片组件的表面进行检测的结果,实现自动检测,自动取放的功能。设备运行稳定,可对芯片组件外观瑕疵进行正确识别和判断,代替人工在显微镜下进行检测的方案,帮助芯片组件厂商提高品质效率,降低运行成本

    • 企业实力

      Enterprise Strength
    • 有效保修

      Valid Warranty
    • 质量保障

      Quality Assurance

    详细介绍

      一、产品概述:
      手机CSP芯片组件外观检测机利用光学检测原理,用程序对CCD成像照片进行分析,实现对芯片组件的表面进行检测的结果,实现自动检测,自动取放的功能。设备运行稳定,可对芯片组件外观瑕疵进行正确识别和判断,代替人工在显微镜下进行检测的方案,帮助芯片组件厂商提高品质效率,降低运行成本
     
      二、设备用途: 
      该设备主要用于实现手机摄像模组CSP组件外观全自动检查,CSP组件来料采用注塑料盘形式,采用堆叠式上下料形式,通过机器自动检测,实现OK/NG快速分拣。
     
      三、设备参数:
      1.硬件参数:

      2.适用载具:本设备对市场上主流的76×76mm;101.6×101.6mm可适用。

      3.可检机种:手机CSP芯片组件外观检测机可检机种包括:CSP/COM机种。

      4.检测能力:
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      a.芯片正面,玻璃上下表面白点,污点,划伤,脏污,玻璃边缘崩缺,溢胶,切割偏移分层,影像区彩虹横条纹或斜条纹等缺陷;
      b.产品摆盘方向;
      c.产品外形特征,识别混料。

    核心指标:

    视野

    15mm×20mm

    漏检率

    玻璃类:漏检率<500PPM(0.5‰)

    方向类:漏检率<100PPM(0.1‰)

    过检率

    玻璃类:过检率<5%  

    方向类:过检率<1%  

    UPH

    ≥15000(CSP 一次良率90%),≥13500(CSP 一次良率85%)(按包装板产品颗数需≥100参照评估)

    可检机种

    CSP/COM机种

    吸嘴支持

    可以适用于4.5×4.5mm以上的组件产品。

    料盘支持

    76mm*76mm和101.6mm*101.6mm料盘

    漏检率=漏检数/投检数×100%
    过检率=过检数/投检数×100%
    漏检数和过检数的确认,结合工具显微镜对标和熟练检测员人工检查进行综合确认。

    备注:
    1.良率会直接影响漏过检和UPH,以上均为典型值指标。
    2.客户个性化需求根据实际情况评估。
    3.特殊机种因其本身特性导致的成像异常(比如油墨反光或者发射异常),则可能无法检测。

    4.设备根据灰度差异进行缺陷检测,当不同缺陷呈现同类灰度形貌时,将无法区分缺陷种类。

     

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